Le spectromètre à faisceau d’ions MEIS (Medium Energy Ion Spectroscopy) est un des outils phares de la Plateforme de Nanocaractérisation pilotée par Inac, Léti et Liten. Il permet entre autres de déterminer des profils de concentration ou des déplacements atomiques, élément par élément. Il vient d’être équipé d’un détecteur 2D qui divise par 4 le temps d’expérience, ce qui induit de plus une diminution de l’irradiation et de la dégradation des échantillons ainsi qu’une augmentation de la résolution.