Diffraction X

La diffraction des rayons X est un phénomène d'interférence constuctive qui se produit quand un faisceau de rayons X (onde électromagnétique) pénètre dans un cristal (empilement périodique d'atomes).

Il peut donc apparaitre quand on place un monocristal, un polycristal ou une poudre devant une source de rayons X. L'emplacement des faisceaux diffractés nous informe sur la périodicité du (des) cristal, tandis que l'intensité de ces faisceaux nous informe sur la nature et la position des atomes contenus dans le (les) cristal.

 

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Maj : 03/09/2010 (418)

Voir aussi
Ce montage de diffusion RX à collimation ponctuelle permet de couvrir une grande gamme de longueur caractéristique (ou de vecteur d'onde).
Diffractomètre monocristaux  Agilent « XCalibur S »:   Tube Mo , long fine focus   Monochromateur graphite, Collimateur fibre optique 0.5, 0.8 et 1 mm   détecteur CCD  4048 x 4048 pixel.
Diffractomètre PANalytical Empyrean     => Détermination des structure, orientation et microstructure (contraintes, tailles de grains...) de couches minces polycristallines, texturées ou épitaxiées.
Diffractomètre X'Pert de PANalytical       => Identification de phase, affinement de structure, détermination de la microstructure (gradient de paramètres de maille, taille de cristallites...) sur échantillons polycristallins.
      Objectifs:   - Utiliser les principes et les techniques de diffraction et de réflectométrie des Rayons X  pour la caractérisation de couches minces.
    Contenu du module :   Premier jour : · Partie théorique : le cristal, le réseau direct, la diffraction, les facteurs de structures, les groupes d’espace.
  Objectifs:   - Utiliser les principes de la diffraction des Rayons X ainsi que les spécificités de la technique haute résolution  pour la caractérisation de couches minces et de nanostructures.
  Objectifs:   - Acquérir les principes de la diffusion aux petits angles (RX ou neutrons) et de leur application pour les études structurales de nanomatériaux.
  Objectifs:   - Utiliser les principes de la diffraction des Rayons X  pour la caractérisation de matériaux polycristallins. - Choisir les conditions opératoires les mieux adaptées au matériau étudié.
Vidéo de présentation de la diffraction des rayons X   Radioprotection (lien sur présentation Gilles Dubois)    
Le laboratoire SP2M/NRS, avec la collaboration de J.-S. Micha (SPrAM/PCI) est impliqué dans l’exploitation de la ligne Collaborative Research Group-InterFaces (CRG-IF) à l’ESRF avec comme source un aimant de courbure BM32 (ESRF_BM32).

 

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