Diffractomètre Haute résolution et in-plane SMARTLAB

 

En 2015 nous avons accueilli un diffractomètre de rayons X Smartlab de la marque RIGAKU. Il est équipé d’une source à anode tournante 9KW au Cu. C’est un équipement très versatile permettant d’effectuer, selon les besoins, des expériences de diffraction permettant d'obtenir des informations sur la structure parallèlle (vecteur Q out-of plane) ou perpendiculaire (vecteur Q in-plane) à la surface de l'échantillon, en haute ou en moyenne résolution, sur des couches de matériaux massifx ou nanostructurés.

 

 Il est géré conjointement par l’Institut Néel et l’INAC

 

Spécificités

Cet équipement permet de faire des études sur:

•grande diversité de matériaux : métalliques, semiconducteurs, couches organiques
•géométries variées: des structures bidimensionnelles qui vont depuis le dépôt de quelques monocouches à quelques nanomètres sur un substrat à la fabrication de super-réseaux complexes, ou de nano-objets tridimensionnels tels que les nano-cristaux ou les nanofils
•tailles caractéristiques de quelques dizaines de nanomètres à quelques micromètres
 
 
Les études permettent d'obtenir des informations sur différents paramètres comme:
structure, contrainte, relaxation, composition, défauts
 

 

 

 

Caractéristiques Techniques

 

•Source 9kW "long fine focus" anode Cu
•Goniomètre avec échantillon  horizontal fixe (configuration (theta-theta)
•Bras détecteur avec deux axes de liberté perpendiculaires (2theta et 2thetachi)
 
Optique amont
•Très Haute résolution : miroir Parabolique + Monochromateur Gobels 4 réflexions (220) Ge - Divergence 0.0033 deg
• Haute résolution: Miroir Parabolique + Monochromateur Gobels 2 réflexions (220) Ge Divergence 0.01 deg
•Moyenne résolution : collimateurs plan divergence 0.25 et 0.15 deg
 
Optique Aval
•Haute  résolution :  analyseur 2 réflexions (220) Ge
•Moyenne résolution : collimateurs plan divergence 0.28 et 0.114 deg 
    
•Détecteur  ponctuel  proportionnel
•Détecteur 1D
 
•moteur oméga et 2 theta (précision 0.0001 deg)
•Platine Echantillon chi (-90; +90), phi 360 deg, z (course de 5mm) + berceau Rx,Ry motorisé de +-5 degrés
•Platine de translation x,y de 20mm
•Mode haute résolution : mesure dynamique > 107 + faisceau incident 5.106 cps - bruit de fond < 1cps
 

Environnement échantillon

•Four permettant d’atteindre 1100 degrés (sous vide ou atmosphère inerte). Pour mesures dans le plan et hors du plan

 

Pour plus de détails contacter/ For more details contact:

 

Eric Mossang  

Edith Bellet-Amalric 

Stéphanie Pouget 

 

Site de réservation

(si vous êtes déjà utilisateur référencé)

https://reservations.neel.cnrs.fr/grr/instrumentation/diffractometre/smartlab/

 

 

Maj : 11/02/2016 (1135)

 

Retour en haut