Microscopie à effet tunnel
Supraconductivité inhomogène

Microscope à effet tunnel

Le microscope à effet tunnel (STM) est un outil puissant capable de faire des images à l’échelle atomique. Il permet de caractériser la topographie Z(X,Y) des échantillons en balayant sa surface avec une pointe métallique tout en conservant un courant tunnel It constant. Mais nous pouvons aussi l’utiliser en mode spectroscopique à très basse température (100mK).


 Dans ce cas, nous enregistrons une caractéristique It(V) complète, où V est la tension de polarisation de la jonction tunnel, en gardant la distance pointe-échantillon Z constante en un point (X,Y) particulier de la surface de l’échantillon. Cela permet d’avoir accès à la densité d’états électronique locale (LDOS).
 

En effet, à l’aide d’une détection synchrone, nous pouvons enregistrer la conductance tunnel différentielle dIt/dV, quantité proportionnelle à cette densité d’états locale. Ceci permet, par exemple, de mesurer l’évolution spatiale du paramètre d’ordre pour des matériaux supraconducteurs inhomogènes ou des nanostructures hybrides composées d’un métal normal et d’un supraconducteur.

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Maj : 11/10/2013 (351)

 

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