Diffractomètre de Poudres

Diffractomètre X'Pert de PANalytical

 

 

 

=> Identification de phase, affinement de structure, détermination de la microstructure (gradient de paramètres de maille, taille de cristallites...) sur échantillons polycristallins.

 

=> Détermination de la cristallinité de membranes polymériques anisotropes.

 

 

 

 

  • source: tube 2,2kW "long fine focus" avec anode Cu
  • goniomètre vertical de type θ/2θ, de rayon 200mm
  • optique Bragg-Brentano
    • Soller 0.02 ou 0.04 rd
    • fente de divergence fixe ou variable (longueur irradiée constante)
    • fente d'anti-diffusion
  • Passeur échantillons 15 positions
  • Possibilité de mesurer en transmission avec contrôle de la rotation dans le plan de l'échantillon (intéressant notamment pour échantillons membranaires)
  • Détecteur linéaire X'Celerator

 

=> Identification de phase, affinement de structure, détermination de la microstructure (gradient de paramètres de maille, taille de cristallites...) sur échantillons polycristallins.

 

Programmes de traitement/analyse des données:

 

Base de données ICDD

Highscore Plus (identification de phase, détermination des paramètres de maille, de la taille de cristallites, affinement Rietveld)

Fullprof (affinement Rietveld)

Routines "maison" d'affinement de profil de pic sous Igor Pro

 

 

Contact: Stéphanie Pouget (stephanie.pouget[at]cea.fr)

 

Maj : 02/10/2014 (788)

 

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