MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION POUR L'ETUDE A L'ECHELLE ATOMIQUE DES MATERIAUX 2D
Hanako OKUNO
DRF/INAC/MEM/LEMMA
Vendredi 18/03/2016, 12h30
Grand amphithéâtre, Maison Minatec

Résumé :
Le graphène, et plus généralement les matériaux bi-dimensionnels (2D), présentent un fort intérêt pour des applications nanoélectroniques et optoélectroniques du fait de leurs propriétés uniques.
Leur structure atomique influe fortement sur leurs propriétés, et le dopage et la présence de défauts par exemple, modifient drastiquement leurs propriétés électroniques.


De ce fait, l'analyse et la maîtrise de leur structure à l'échelle atomique est indispensable à la fois pour comprendre la physique fondamentale de ces matériaux, mais aussi afin de les introduire dans de nouveaux dispositifs.

Ainsi, une nouvelle microscopie a récemment été développée : la microscopie en transmission à basse tension et corrigée des aberrations optiques. Elle va rapidement devenir un outil puissant pour imager et quantifier à l'échelle atomique ces matériaux constitués d'un, ou quelques, plans atomiques.

Quelles techniques de caractérisations utilisent ces nouveaux microscopes ? Quelles sont les possibilités ouvertes pour l'analyse de ces matériaux 2D ?

Contact : Michel BENINI

 

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