Nanostructures et Rayonnement Synchrotron (NRS)
Responsable : Joël EYMERY

L'activité scientifique du laboratoire NRS est principalement orientée d'une part vers l'étude in-situ, sous ultra vide, en temps réel, de la croissance, du mûrissement et de l'auto organisation de nanostructures et d'autre part vers l'étude structurale ex-situ des nanostructures. Pour ce faire nous développons des compétences autour de techniques fondées sur l'utilisation du rayonnement X de laboratoire et synchrotron. Le rayonnement X constitue une sonde, non destructive, qui produit des informations statistiques et permet par exemple d'analyser des nano-objets in-situ en cours de croissance, ou ex-situ en surface ou enterrés. De plus la brillance, la polarisation et l'accordabilité en énergie du rayonnement synchrotron sont des caractéristiques uniques très largement misent à profit (diffraction anomale, absorption X). Les informations recueillies concernent les formes, le facettage, les tailles et leurs distributions, les champs de contraintes, la composition, la structure atomique à courte distance, ... Une part importante de notre activité est dédiée à la construction, à la maintenance et à la gestion de lignes CRG (Collaborative Research Group) françaises et de leurs intruments à l'ESRF (BM32, FAME et D2AM). Nous accueillons les chercheurs sur les intruments de ces lignes pour des expériences relevant de notre compétence (Diffraction in-situ, Absorption X, Diffraction anomale, Spectroscopie en condition de diffraction).

 

Exemples d'études en cours - Etude ex-situ de la forme, taille, contraintes et composition de nanostructures enterrées : fils As/InP, boîtes et superréseau de boîtes GaN/AlN. - Etude in situ de l'auto organisation de particules métalliques : Co/Au(111), Co sur réseaux de dislocations émergeants à la surface de film Ag, Co sur substrat de W nano-facettés. - Etude par absorption X de la localisation et de l'environnement local des atomes Mn et Eu dans les hétérostructures GaN/AlN - Simulations des champs de contraintes et des intensités diffusées aux petits et grands angles en incidence rasante, et pour des énergies du faisceau X proches des seuils d'absorption.

 

Collaborations extérieures - CEA-Saclay DRECAM/SPCSI : Etude RS in situ de la reconstructions de SiC ; GPS, Université Paris VI : auto-organisation. GPS, LURE, Orsay, surfaces vicinales ; LMCP, GPS : metal/oxydes ; Université de Piscataway: nanostructuration de surface. - Institut d'Electronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie, Villeneuve d'Ascq : simulations des champs de déformations ; ICMA, CSIC-Université de Zaragoza, Madrid : GI-DAFS et absorption X, nanostructures InAs/InP.

 

Techniques principalement utilisées - Diffusion aux petits angles en incidence rasante, sous ultra vide (GISAXS), BM32, ESRF - Diffusion aux grands angles en incidence rasante, sous ultra vide (GIXD), BM32, ESRF - Diffraction anomale et Spectroscopie en condition de diffraction en incidence rasante (GIDAFS), BM2, BM32, ID1, ESRF - Absorption X (FAME, ESRF) - Diffraction en laboratoire : une anode tournante et un diffractomètre adapté à la mesure en incidence rasante. Développements instrumentaux - Micro focalisation du rayonnement synchrotron (lignes CRG françaises), GIDAFS appliqué à l'étude des nanostructures.

 

Last update : 02/20 2017 (14)

 

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